瑞士梅特勒-托利多 - 甘沃實業（上海）有限公司

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產品圖片	產品名稱/型號	產品簡單介紹
	HS153鹵素水分測定儀 HS153	當水分含量決定生產效率時，HS153鹵素水分測定儀是您的優選儀器。HS153鹵素水分測定儀具有快速獲得結果，直觀的顯示測定信息等特點，確保在實驗室和生產現場迅速獲得可重復的測量結果。
	MJ33紅外水分測定儀 MJ33	MJ33紅外水分測定儀是日常測定的堅固之選，特別適用于工業環境，如：原料入庫的水分含量測定。MJ33紅外水分測定儀采用金屬加熱單元和簡便的操作確保無差錯的樣品水分快速測定，簡化了日常水分測定的工作。
	HB43-S鹵素水分儀 HB43-S	HB43-S鹵素水分儀，適用于實驗室和生產現場，是結合**鹵素燈加熱技術和強大分析能力的一款緊湊型儀器。HB43-S鹵素水分儀，具有良好的重現性的水分測定結果，存儲100種不同樣品水分測定方法數據庫。
	自動熔點測定儀 MP50/MP70/MP90 MP50/MP70/MP90	擁有的梅特勒-托利多熔點儀系統-自動熔點測定儀 MP50/MP70/MP90，您的測量結果將完全地可靠。您可非常準確地測定熔點或熔程。而且，自動熔點測定儀 MP50/MP70/MP90具備更多功能：通過視頻觀察可研究顏色變化、濁點和分解溫度。
	熱臺HS82和DSC熱臺HS84 HS82, HS84	熱臺HS82和DSC熱臺HS84顯微鏡系統是用圖像表征各種熱轉變過程的強大工具。它能夠直接觀察樣品在加熱或冷卻過程中的晶態變化。還可以觀察到結晶過程中形狀、結構、顏色以及大小和數量的變化。熱臺HS82和DSC熱臺HS84技術可以表征相轉變并且還提供有關收縮和膨脹行為的信息。
	XP系列微量天平 XP系列	梅特勒-托利多XP2U/XP6，XP系列微量天平/超微量天平在處理昂貴、易分解或者有毒物質時，盡可能減少樣品使用量意味著可以大大降低成本。而XP26/XP56微量天平/超微量天平特別適用于將微量樣品直接加入大的去皮容器中?？梢杂行П苊鈽悠忿D移過程中的誤差和浪費。XP系列微量天平有多種款型可選擇。
	XP系列微量天平 XP26/56/26DR/56DR/XP6/XP2U/XP6	梅特勒-托利多XP系列微量天平包括XP26/56/26DR/56DR/XP6/XP2U/XP6微量天平/超微量天平，在處理昂貴、易分解或者有毒物質時，盡可能減少樣品使用量意味著可以大大降低成本。而XP26/XP56微量天平/超微量天平特別適用于將微量樣品直接加入大的去皮容器中?？梢杂行П苊鈽悠忿D移過程中的誤差和浪費。XP系列微量天平是高精尖的象征。
	XP6002S DeltaRange 精密天平 XP6002S精密天平	XP6002S DeltaRange 精密天平，質量管理工具箱確保法規環境下的*性。八個獨立設置的用戶界面，用戶管理定義訪問權限，密碼保護，歷史文件，小稱量值功能，專業級全自動校準技術proFACT專業級全自動校準技術。XP6002S DeltaRange 精密天平性能**。
	快速鹵素水分儀 HX204快速鹵素水分儀	HX204快速鹵素水分儀是一種可快速簡單地測定水分的解決方案，并且測量結果可靠。HX204快速鹵素水分儀非常容易使用，無需使用化學制品或專業實驗室人員照看，測量結果與通過 KF 滴定法所取得的結果一致?？偠灾?，HX204鹵素水分測定儀是快速方便地在工廠車間和質量控制實驗室測定水分含量的理想選擇。
	卡爾費休水分儀卡爾費休水分儀	水分含量的多少是物質的一項重要的質量指標，因此水分的定量分析是各類物質理化分析的基本項目之一?？栙M休水分儀測量時，只與樣品中游離的水發生反應，所以卡爾費休測量方法對水有很好的選擇性，同時還具有寬的水分測量范圍。因此利用卡爾費休方法測量水分的結果非常準確。 KF卡爾費休水分儀有2類：容量法和庫侖法。前者通常用來測量含水量比較高的樣品，后者測量含水量較低的樣品。
	pH計/離子計/電導率儀/溶氧儀 pH計/離子計/電導率儀/溶氧儀	設計精致的梅特勒-托利多實驗室儀表采用**的電化學測量技術，專門針對您的各種應用需求提供獨特的解決方案。pH計/離子計/電導率儀/溶氧儀，可用于測量pH、電導率、離子濃度、溶氧。pH計/離子計/電導率儀/溶氧儀有SevenExcellence專業型儀表、SevenCompact通用型臺式儀表和SevenGo(Duo)系列便攜式儀表。
	差示掃描量熱儀DSC DSC1,DSC2	由于采用了模塊化設計，差示掃描量熱儀DSC 作為 METTLER TOLEDO 熱分析超越系列的一個組成部分，是人工或自動操作的佳選擇，適用于從生產到質量保證和技術研發。差示掃描量熱儀DSC采用的、配備56對或 120對熱電偶的 DSC 磚利傳感器，確保具有***的靈敏度。
	高壓差示掃描量熱儀HP DSC 高壓差示掃描量熱儀HP DSC	高壓差示掃描量熱儀HP DSC 基于DSC 技術，采用FRS5和HSS8傳感器，保證了其**的性能。它可在0-10 MPa的壓力范圍內，從室溫至700 ?C進行測試。加壓將影響所有伴隨發生體積改變的物理變化和化學反應。在材料測試、工藝開發或質量控制中，經常需要在壓力下進行DSC測試，高壓差示掃描量熱儀HP DSC是根據客戶的測試要求而開發出來的產品。
	DSC光量熱儀(UV-DSC) 光量熱儀UV-DSC	DSC光量熱儀(UV-DSC)組件與DSC 組合使用，可以使DSC的使用范圍擴展到光固化領域，研究光引發的反應。DSC光量熱儀(UV-DSC)可以測定材料在不同的溫度下用一定的波長照射不同的時間段時發生的、以及照射后所發生的焓變。
	顯微/化學發光掃描量熱儀顯微/化學發光掃描量熱儀 DSC/ HP DSC	顯微/化學發光掃描量熱儀為DSC 或HP DSC 與裝備有視頻和照相技術的顯微鏡的合成系統能夠對樣品在DSC中加熱或冷卻過程中進行光學觀察。這些光學信息對于在DSC曲線中測量到的現象作出**的解釋通常是十分有用的。顯微/化學發光掃描量熱儀是在DSC基礎上進行擴展的新技術。
	閃速差示掃描量熱儀Flash DSC 閃速差示掃描量熱儀Flash DSC	閃速差示掃描量熱儀Flash DSC是*型的快速掃描量熱儀，該技術能分析之前無法測量的結構重組過程。閃速差示掃描量熱儀Flash DSC與常規DSC是理想的互補工具，升溫速率達到7個數量級范圍，高升溫速率可達到2,400,000 K/min。
	熱重/同步差熱分析儀TGA/DSC 2 熱重/同步差熱分析儀TGA/DSC 2	熱重分析儀TGA 的核心是天平。我們的 TGA 儀器使用世界*好的梅特勒-托利多微量和超微量天平。利用三種可拆卸傳感器中的一種，熱重/同步差熱分析儀TGA/DSC 2 可同時測量熱流量以及重量變化。由于采用模塊化設計，熱重/同步差熱分析儀TGA/DSC 2是理想的人工或自動操作儀器，可應用于從生產到質量保證和技術研發。
	熱重分析儀TGA 熱重分析儀TGA1	熱重分析儀TGA 的核心是天平。我們的熱重分析儀TGA使用世界*好的梅特勒-托利多微量和超微量天平。由于采用模塊化設計，TGA可以手動或自動控制，是一款應用于從研發、生產到質量保證的理想儀器。
	熱機械分析儀TMA 熱機械分析儀TMA/SDTA 1	熱機械分析儀TMA是測量樣品在非振動負荷下，隨溫度或時間變化而變化的形變的技術。梅特勒的熱機械分析儀TMA，型號TMA/SDTA 1可在對樣品進行TMA測量的同時測量差熱變化（SDTA）。還具備動態負載熱機械分析（DLTMA）模式，負載能周期性變化，測量樣品的楊氏模量。
	動態熱機械分析儀DMA1 動態熱機械分析儀DMA1	動態熱機械分析儀DMA1是測量樣品在周期振動應力下，隨溫度或頻率變化而變化的力學性能和粘彈性能的技術。梅特勒-托利多動態熱機械分析儀DMA1具有獨特的特征和優點。